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Principi Fondamentali della Fluorescenza XRF:


 


Spettrometri a Fluorescenza X - Tecnologia WDXRF

La tecnica XRF (Fluorescenza a Raggi X) permette l’analisi elementare non distruttiva di un ampia gamma di materiali con un elevato livello di precisione specialmente ad alte concentrazioni. I punti di forza di un’analisi di questo tipo sono la facilità di preparazione del campione e la possibilità di analizzare sia materiali conduttivi (metalli) ed anche materiali non conduttivi (ossidi, vetro, ceramica, plastica, cemento etc.), nonché l’analisi di liquidi, (olio, acqua, idrocarburi, etc.).

Questa tecnica di analisi può essere impiegata sia nei controlli di processo che nella ricerca, con un grado di precisione entro limiti dello 0,1% relativo, e con limiti di rilevabilità nell’ordine di parti per milione. La tecnica XRF è ampiamente usata anche nel settore siderurgico in combinazione con la tecnica OE (Emissione Ottica). Questa combinazione di possibilità permette una rapida ed accurata analisi sia dei metalli che degli ossidi associati ad essi, come i minerali da cui derivano.

Gli Spettrometri XRF operano attraverso l’irradiazione di un fascio di fotoni X ad alta energia, che eccitano gli elettroni presenti nelle orbite interne agli atomi degli elementi che compongono il campione da analizzare. Le lunghezze d’onda caratteristiche emesse sono separate attraverso un sistema di cristalli e rivelatori, l’intensità dei singoli elementi viene memorizzata ed elaborata da un calcolatore, che fornisce dei risultati in concentrazione degli elementi presenti nel campione analizzato, facendo riferimento a curve di calibrazione costruite con standard internazionali.